【关于和记官方网站】AFM测试原理:表面形貌测量新思路
AFM(Atomic Force Microscopy)是一种基于扫描探针显微镜的技术,其通过探针与样品表面的相互作用来获得高分辨率的表面形貌图像。本文将从六个方面阐述AFM测试原理:表面形貌测量新思路,包括:AFM的基本原理、探针的选择、扫描模式的选择、数据处理方法、样品制备、以及应用领域。通过对这些方面的详细阐述,可以更好地理解AFM技术在表面形貌测量中的应用。 一、AFM的基本原理 AFM是一种非接触式的表面形貌测量技术,其基本原理是利用扫描探针在样品表面扫描时与样品表面的相互作用来获得